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產品名稱:508PV顯微分光光度計

產品型號:508PV

產品報價:

產品特點:508 PV™能夠與任意開放接口的顯微鏡或者探針臺結合使用,增加光譜學、彩色成像、薄膜厚度測量和比色測量功能,非常適用于各種應用,如平板顯示器上像素的比色測定、煤鏡質體和巖相的反射率測量或光學和半導體的薄膜厚度測量,能夠很簡便快速的獲得光譜和圖像,甚至是數字視頻。選擇不同的顯微鏡配置,能夠從微光樣品中獲得吸收、透射、反射、偏光和熒光顯微光譜。

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508PV508PV顯微分光光度計的詳細資料:

  508 PV™能夠與任意開放接口的顯微鏡或者探針臺結合使用,增加光譜學、彩色成像、薄膜厚度測量和比色測量功能,非常適用于各種應用,如平板顯示器上像素的比色測定、煤鏡質體和巖相的反射率測量或光學和半導體的薄膜厚度測量,能夠很簡便快速的獲得光譜和圖像,甚至是數字視頻。選擇不同的顯微鏡配置,能夠從微光樣品中獲得吸收、透射、反射、偏光和熒光顯微光譜。CRAIC提供的顯微鏡為顯微光譜儀經過特別設計,能夠得到很大的光譜范圍、增強的信噪比和優秀的成像能力。

      508 PV™顯微分光光度計所擁有的前沿技術,能用來升級老版的顯微分光光度計。508 PV™采用的Lightblades™分光光度計,采用TE冷卻保證長期穩定性和低噪聲水平,科研級顯微鏡,yongjiu校準的可變孔徑,通用C-mount接口以及整合光譜分析、圖像處理和設備控制的先進Lambdafire™控制軟件包。設備性能穩定性,操作簡便,能實現多年無故障運行。

       
                                    508PV顯微分光光度計

 

 508 PV™參數              

光譜學類型 紫外-可見-近紅外吸光度,反射率,熒光,光致發光,偏振
顯微拉曼 可選Apollo II™ 
薄膜厚度 ≥15nm 
微動力 可選 
5D Mapping 可選 
微比色法 可選 
光譜范圍 20-2100nm 
成像范圍 高分辨率彩色 
熒光激發 365-546nm 
熒光發射 400-900nm 
探測器 類型Lightblades™
探測器 CCD和inGaAs陣列 
探測器冷卻 TE制冷 
光譜分辨率 1-15nm 
采樣面積 1-10000µm²  
 
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